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可靠性高溫測試IEC60068測試項目要求有哪些

文章出處:環(huán)測威 人氣:81發(fā)表時間:2024-10-30

可靠性高溫測試IEC60068測試項目要求有哪些?(高溫運行、高溫貯存)的目的是確定軍民用設備、零部件在常溫條件下儲存和工作的儲存、使用的適應性及耐久性。確認材料高溫下的性能。


  為能正確觀察與驗證產(chǎn)品在高溫環(huán)境下之熱效應,同時避免因濕度效應影響試驗結(jié)果,標準中對于試驗前處理、試驗初始檢測、樣品安裝、中間檢測、試驗后處理、升溫速度、溫度柜負載條件、被測物與溫度柜體積比等均有規(guī)范要求。

  高溫條件下試件的失效模式,產(chǎn)品所使用零件、材料在高溫時可能發(fā)生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現(xiàn)象。


  高溫環(huán)境對設備的主要影響有:

  a.填充物和密封條軟化或融化;

  b.潤滑劑粘度降低,揮發(fā)加快,潤滑作用減小;

  c.電子電路穩(wěn)定性下降,絕緣損壞;

  d.加速高分子材料和絕緣材料老化,包括氧化、開裂、化學反應等;

  e.材料膨脹造成機械應力增大或磨損增大。

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  參考標準

  IEC 60068-2-2:2007《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫》;

  GJB128A-97 《半導體分立器件試驗方法》;

  MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》;

  GJB4.2-83《艦船電子設備環(huán)境試驗 高溫試驗》;

  GJB360A-96 電子及電氣元件試驗方法 方法108高溫壽命試驗;

  MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗方法》;

  GJB548A-96 《微電子器件試驗方法和程序》;

  MIL-STD-883D 《微電子器件試驗方法和程序》;

  SJ/T 10325-92《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.1 高溫負荷試驗;

  SJ/T 10325-92《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.2 高溫貯存試驗;

  GB/T13543-92《數(shù)字通信設備環(huán)境試驗方法》;

  QC/T 413-2002《汽車電氣設備基本技術(shù)條件》;

  YD/T 1591-2009《移動通信手持機充電器及接口技術(shù)要求和測試方法》。


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