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電磁兼容性EMC測(cè)試辦理需要多久

文章出處:環(huán)測(cè)威 人氣:127發(fā)表時(shí)間:2024-09-23

電磁兼容性EMC測(cè)試辦理需要多久?在當(dāng)今高度互聯(lián)的世界中,電磁兼容性(EMC)測(cè)試是確保電子設(shè)備在不同環(huán)境中正常運(yùn)行的重要環(huán)節(jié)。無(wú)論是消費(fèi)電子、工業(yè)設(shè)備,還是醫(yī)療設(shè)備,都需要通過(guò)EMC測(cè)試,以確保它們不會(huì)受到其他設(shè)備的電磁干擾(EMI),也不會(huì)產(chǎn)生過(guò)多的干擾影響其他設(shè)備。這類測(cè)試也有助于確保產(chǎn)品符合市場(chǎng)準(zhǔn)入標(biāo)準(zhǔn),如CE認(rèn)證中的EMC部分。


  EMC測(cè)試的類型及時(shí)間需求

  EMC測(cè)試主要分為兩個(gè)類別:電磁干擾(EMI)測(cè)試和電磁抗干擾(EMS)測(cè)試。此外,還有整合這兩者的CE-EMC認(rèn)證。每種測(cè)試所需的時(shí)間因測(cè)試設(shè)備、標(biāo)準(zhǔn)要求及整改措施而不同。

  1.EMI測(cè)試

  EMI測(cè)試主要測(cè)量設(shè)備在運(yùn)行過(guò)程中產(chǎn)生的電磁干擾。測(cè)試項(xiàng)目通常包括輻射發(fā)射、傳導(dǎo)發(fā)射等。這類測(cè)試的時(shí)間長(zhǎng)度通常取決于設(shè)備的復(fù)雜性和測(cè)試項(xiàng)目的數(shù)量。

  - 一般測(cè)試時(shí)間:1-3天

  對(duì)于較為簡(jiǎn)單的設(shè)備,1天即可完成基礎(chǔ)EMI測(cè)試,而復(fù)雜的設(shè)備(如多模塊、多頻段設(shè)備)可能需要2-3天。

  2.EMS測(cè)試

  EMS測(cè)試評(píng)估設(shè)備抵抗外部電磁干擾的能力。測(cè)試項(xiàng)目通常包括靜電放電抗擾度、射頻電磁場(chǎng)抗擾度、電快速瞬變脈沖群抗擾度等。EMS測(cè)試較為復(fù)雜,涉及不同的環(huán)境條件模擬和多種干擾源測(cè)試。

  - 一般測(cè)試時(shí)間:2-5天

  簡(jiǎn)單設(shè)備可能在2天內(nèi)完成,而復(fù)雜設(shè)備或具有特殊要求的產(chǎn)品可能需要4-5天。

  3.CE-EMC認(rèn)證

  CE-EMC認(rèn)證是為了符合歐盟市場(chǎng)要求,包含了EMI和EMS兩類測(cè)試的完整認(rèn)證流程。此過(guò)程通常包括初次測(cè)試、整改(如有)、重新測(cè)試等。

  - 一般測(cè)試時(shí)間:5-10天

  這個(gè)過(guò)程包括多個(gè)步驟,時(shí)間取決于產(chǎn)品的合規(guī)情況。如果初次測(cè)試沒(méi)有通過(guò),可能需要進(jìn)行整改和重新測(cè)試,增加了整體的時(shí)間需求。

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  影響EMC測(cè)試時(shí)間的因素

  測(cè)試時(shí)間并非固定不變,它受多種因素的影響。了解這些因素有助于企業(yè)在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)和測(cè)試階段更好地分配時(shí)間。

  1.設(shè)備復(fù)雜性

  - 單一功能設(shè)備:功能簡(jiǎn)單的設(shè)備,如單一無(wú)線模塊產(chǎn)品,測(cè)試時(shí)間相對(duì)較短。

  - 多功能設(shè)備:擁有多個(gè)通信模塊、復(fù)雜功能或多個(gè)頻段的設(shè)備,需要更多的測(cè)試項(xiàng)目,因此測(cè)試時(shí)間會(huì)更長(zhǎng)。

  2.測(cè)試環(huán)境

  測(cè)試環(huán)境的復(fù)雜程度也會(huì)影響時(shí)間。例如,某些EMS測(cè)試需要特定的環(huán)境模擬(如雷擊、電磁脈沖等),而這些環(huán)境的設(shè)置和驗(yàn)證可能需要額外的準(zhǔn)備時(shí)間。

  3.整改措施

  如果設(shè)備在初次測(cè)試中未通過(guò),整改往往是耗時(shí)的重要環(huán)節(jié)。整改可能涉及重新設(shè)計(jì)電路、改變屏蔽結(jié)構(gòu)或增加濾波器等。完成整改后,還需要進(jìn)行重新測(cè)試,以驗(yàn)證改進(jìn)效果。

  4.實(shí)驗(yàn)室的排期

  實(shí)驗(yàn)室的可用性也會(huì)影響測(cè)試周期。如果是熱門的檢測(cè)項(xiàng)目,可能需要提前預(yù)約。某些特殊測(cè)試環(huán)境需要額外配置,排期可能更長(zhǎng)。


  EMC測(cè)試的時(shí)間框架

  根據(jù)以上不同測(cè)試類型和影響因素,客戶可以對(duì)測(cè)試時(shí)間有一個(gè)大致的預(yù)期。以下是一個(gè)常見(jiàn)的時(shí)間框架:

  1、簡(jiǎn)單設(shè)備(如小型消費(fèi)電子):5-7天

  包括EMI、EMS測(cè)試,且設(shè)備在初次測(cè)試中合規(guī)的情況下。

  2、復(fù)雜設(shè)備(如工業(yè)設(shè)備或多功能設(shè)備):7-15天

  這個(gè)時(shí)間框架包括測(cè)試、潛在的整改時(shí)間和重新測(cè)試。

  3、CE-EMC認(rèn)證:10-20天

  由于其需要全面的EMI和EMS測(cè)試,并可能涉及多個(gè)整改和重新測(cè)試階段,認(rèn)證過(guò)程通常會(huì)更長(zhǎng)。

  EMC測(cè)試時(shí)間的長(zhǎng)短取決于多種因素,如設(shè)備的復(fù)雜性、測(cè)試要求和實(shí)驗(yàn)室排期等。為了確保順利通過(guò)測(cè)試,建議客戶在開(kāi)發(fā)過(guò)程中盡早考慮EMC設(shè)計(jì)要求,并合理安排測(cè)試時(shí)間。


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